上海電鍍層X熒光膜厚測(cè)試儀
上海電鍍層X熒光膜厚測(cè)試儀Thick-900系列X熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
技術(shù)特性
1.?X-Y-Z樣品平臺(tái)移動(dòng)裝置
Thick-900系列X熒光鍍層測(cè)厚儀的X-Y-Z樣品平臺(tái)采用電動(dòng)移動(dòng)裝置,具有可容納各種形狀的鍍層樣品及電鍍液體樣品的超大樣品室。使用簡(jiǎn)單方便。
2.?X射線管激發(fā)系統(tǒng)
激發(fā)系統(tǒng)采用獨(dú)特的正置直角光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。高電壓發(fā)生器:電壓與電流采用軟件自動(dòng)數(shù)碼控制及顯示。**功率50?W。電壓0?-50?KV,電流0-1000uA。8小時(shí)穩(wěn)定性≤0.05%。高效長(zhǎng)壽命X光管:采用低功率﹑自然冷卻﹑高壽命、國(guó)際**水平的X光管,指標(biāo)達(dá)到國(guó)際**水平。**功率50W,管壓5-50KV?;管流電流0-1000uA。
3.高分辨率的探測(cè)器系統(tǒng)
進(jìn)口原裝電制冷探測(cè)器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比。*分辨率能達(dá)到149eV±5ev。
4.能譜儀電子學(xué)系統(tǒng)
原裝進(jìn)口前置放大器及放大器等信號(hào)處理器:適應(yīng)高計(jì)數(shù)率,高抗干擾能力的一體化電子線路。模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用高精度的2048道。
5.計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)
****計(jì)算機(jī);高分辨率彩色液晶顯示器。
**打印機(jī)。
6.系統(tǒng)軟件
國(guó)際**的XRF分析軟件,融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法(FP法)、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法,全面保證:?jiǎn)螌?、雙層、多層、合金鍍層測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
7.電源
AC?220V~240V、50Hz?。
額定功率:350W,選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源。
8.儀器尺寸、重量
樣品腔尺寸:498*360*158?mm(W*D*H)
主機(jī)外形尺寸:580*500*580?mm?(W*D*H)
主機(jī)重量:約50KG。
技術(shù)應(yīng)用:
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。
1.銅上鍍金單鍍層厚度測(cè)量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測(cè)量是工業(yè)中常見的,利用Thick-900系列X熒光鍍層測(cè)厚儀可以獲得很的結(jié)果。
熒光厚度與已知厚度樣品結(jié)果對(duì)比:
鍍層標(biāo)準(zhǔn)厚度(μm) | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
鍍層熒光厚度(μm) | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
2.銅上鍍鎳再鍍金的雙鍍層厚度測(cè)量鐵、銅等材料上先鍍鎳再鍍金的厚度測(cè)量也是工業(yè)中常見的,見下表:
鎳鍍層標(biāo)準(zhǔn)厚度(μm) | 0.15 | 0.85 | 1.30 | 2.15 | 4.56 | 8.13 | 9.55 |
鎳鍍層熒光厚度(μm) | 0.13 | 0.88 | 1.33 | 2.20 | 4.60 | 8.25 | 9.48 |
金鍍層標(biāo)準(zhǔn)厚度(μm) | 0.23 | 0.45 | 0.75 | 1.15 | 1.22 | 1.53 | 1.65 |
金鍍層熒光厚度(μm) | 0.21 | 0.43 | 0.77 | 1.17 | 1.26 | 1.55 | 1.58 |