上海貴金屬快速檢測(cè)鑒定光譜儀

? ? ? ?EDX-730貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的中端產(chǎn)品?？蓪?shí)現(xiàn)貴金屬及雜質(zhì)檢測(cè)，符合新國(guó)標(biāo)GB18043-2013。該產(chǎn)品可應(yīng)用于銀行、技監(jiān)部門、金廠、典當(dāng)?shù)缺姸嘈袠I(yè)。

儀器采用了電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，*分辨率為149eV。能檢測(cè)被測(cè)物中的各種元素，有效測(cè)量黃金、鉑金中的銥含量。6mm2的探測(cè)面積，大大提高了特征X熒光能量信號(hào)的接收能力。配合來自美國(guó)的第四代數(shù)字信號(hào)處理器，具有**的分析速度和系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率**可達(dá)100萬(wàn)，具有很高的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

儀器特點(diǎn)

1.?????符合國(guó)家首飾新標(biāo)準(zhǔn)GB18043-2013。

2.?????操作簡(jiǎn)便，測(cè)量時(shí)間短，不需要輔助材料，不需損毀樣品。

3.????全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)設(shè)計(jì)，更好地保障操作員的人身安全。

4.????**的樣品成像準(zhǔn)直系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的準(zhǔn)確點(diǎn)測(cè)。

5.????國(guó)際**的數(shù)據(jù)分析方法，使測(cè)量結(jié)果更加**。

6.????打印機(jī)可連續(xù)打印測(cè)量報(bào)告。

7.????采用來自美國(guó)的電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，探測(cè)面積6mm2，分辨率可達(dá)149eV?？蓹z測(cè)鉑金含銥、黃金含銥等復(fù)雜成分樣品，防止檢測(cè)中產(chǎn)生誤判帶來經(jīng)濟(jì)損失。

8.????采用來自美國(guó)的第四代數(shù)字信號(hào)處理器，數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性遠(yuǎn)高于國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品。

9.????采用來自美國(guó)的高壓電源，配合原廠的數(shù)字控制板，穩(wěn)定性遠(yuǎn)高于國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品。

10.??我公司專業(yè)設(shè)計(jì)的X光管保養(yǎng)程序，能有效延長(zhǎng)X光管壽命，降低用戶使用成本。

11.?高分辨率圖譜即時(shí)顯示，由不同色塊加以判斷區(qū)分，清晰明了，易于判別。

技術(shù)指標(biāo)

1.????工作環(huán)境溫度：10—28℃

2.????工作環(huán)境相對(duì)濕度：≤80%

3.????元素分析范圍：硫(S)到鈾(U)?（貴金屬分析軟件可對(duì)常見的15種元素進(jìn)行含量分析）

4.????貴金屬檢測(cè)范圍：黃金10%-99.99%?,??鉑金?50%-99.95%

5.????測(cè)量樣品型態(tài)：固體、粉末

6.????分析精度：??≤0.2％

7.測(cè)量時(shí)間：??100S(推薦)

8.探測(cè)器類型：電制冷SI-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器

9.*分辨率：149eV

10.信號(hào)處理器：美國(guó)原產(chǎn)第四代數(shù)字信號(hào)處理

11.輸入電源：??AC?220V±10%?/?AC?110V±10%??50Hz

12.?額定功率：??50W

應(yīng)用和示例

科研機(jī)構(gòu)對(duì)貴金屬Au、Pt、Ag、Pd?、Ir、Ru、Rh、Os純度**的分析

珠寶零售商家對(duì)貴金屬珠寶首飾成品的純度分析

首飾工廠對(duì)貴金屬首飾的內(nèi)部質(zhì)量監(jiān)控

質(zhì)檢系統(tǒng)和珠寶鑒定中心對(duì)首飾鑒定

核查廢舊金屬中的金含量