探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

    該探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環(huán)境下調節(jié)，其中X方向調節(jié)范圍：0－30mm；y方向調節(jié)范圍：0－13mm；z方向調節(jié)范圍：0－13mm；用戶可根據需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測。

電子顯微鏡根據客戶需要配置不同倍率 請和客服溝通