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深圳市中圖儀器股份有限公司 已通過實(shí)名認(rèn)證

影像儀,一鍵式測量儀,光學(xué)3D表面輪廓儀,激光干涉儀,圖像尺寸測量儀,測長機(jī),白光干...

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企業(yè)特殊行業(yè)經(jīng)營資質(zhì)信息公示

深圳市中圖儀器股份有限公司

普通會(huì)員

  • 企業(yè)類型:

    企業(yè)單位

  • 經(jīng)營模式:

    制造商

  • 榮譽(yù)認(rèn)證:

          營業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證

  • 注冊(cè)年份:

    2005

  • 主     營:

    影像儀,一鍵式測量儀,光學(xué)3D表面輪廓儀,激光干涉儀,圖像尺寸測量儀,測長機(jī),白光干涉儀,螺紋綜合測量機(jī),機(jī)床測頭,三坐標(biāo)測量機(jī),激光跟蹤儀,共聚焦顯微鏡

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白光干涉儀參數(shù)
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產(chǎn)品: 瀏覽次數(shù):139白光干涉儀參數(shù) 
單價(jià): 面議
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有效期至: 長期有效
最后更新: 2023-03-16 15:25
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詳細(xì)信息
  • 加工定制:否
  • 類型:白光干涉儀
  • 型號(hào):SuperviewW1

光學(xué)輪廓測量儀采用的非接觸式測量方法具有測量精度高、分析功能強(qiáng)大、測量參數(shù)齊全以及使用方便等優(yōu)點(diǎn),加上其獨(dú)特的光源模式,保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測。


中圖儀器的SuperViewW系列白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,以非接觸式測量樣品表面形貌,主要用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,廣泛應(yīng)用于材料,光學(xué),半導(dǎo)體,精密機(jī)械等等領(lǐng)域。



產(chǎn)品特點(diǎn)

1.雙通道氣浮隔振系統(tǒng)大幅減小了環(huán)境振動(dòng)的影響,還可以降低高精度量測時(shí)的噪聲,提高超光滑表面的測試精度。


2.一體化操作的測量分析軟件自動(dòng)對(duì)焦樣品表面,自動(dòng)智能配置測試參數(shù),使原來麻煩的“找條紋”,“選擇測試參數(shù)”過程,在一分鐘之內(nèi),自動(dòng)完成。


3.雙重防撞保護(hù)功能,除初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),能保護(hù)樣品和設(shè)備的安全。




SuperViewW系列白光干涉儀分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡便,可自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢杂糜跍y試各類表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測試直至****反射率的各類高反表面。



技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):SuperView W1系列


產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀


影像系統(tǒng):1024×1024


光學(xué)ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)


干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)


XY平臺(tái):尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動(dòng)、手動(dòng)同時(shí)具備,均為光柵閉環(huán)反饋


Z軸行程:100mm,電動(dòng)


Z向掃描范圍:10mm


Z向分辨率:0.1nm


可測樣品反射率:0.05%-****


水平調(diào)整:±5°手動(dòng)


粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm


臺(tái)階高測量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ


主要特點(diǎn):非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快、效率高


生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司


注釋:更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取



SuperViewW系列白光干涉儀集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI,單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型,其獨(dú)特的3D重建算法,自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合測量精度可達(dá)亞納米級(jí)別,讓3D測量變得簡單。

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