Hysitron TS 77 Select 納米壓痕儀

可靠的定量表征

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)提供了同級別儀器中*高的測試性能，功能性和易用性?；Р剪斂?*的Triboscop鏟電容式傳感器技術(shù)，這套新的測試系統(tǒng)支持從納米到微米尺度的可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。 TS Select具有極高的性價比，提供眾多性能優(yōu)異的測試模塊，包括定量納米壓痕、 動態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和高分辨力學(xué)性能成像功能。

•HysitronTS SelectTesting Modes

納米壓痕

高精度力學(xué)表征

納米壓痕是表征局部微結(jié)構(gòu)、界面＼表面微結(jié)構(gòu)和薄   膜的彈性模噩、硬度 ＼ 蠕變、應(yīng)力松弛和斷裂韌性的常見技術(shù) 。采用布魯克**的 Hysit ron T「iboScope 電容式傳感器技術(shù)，丁 S Select 支持納米到微米尺度定星可靠的力學(xué) 性能測量。

力學(xué)性能成像

快速數(shù)據(jù)***和高速成像

TS  Select 提供比傳統(tǒng)納米壓痕測試快180倍的高速測試能力。在寫秒兩次的納米壓痕測試速度下， 可以在幾分鐘內(nèi)得到非均相材料的高分辨率力學(xué)性能圖像  。此外， 高 速測試可以快速***和統(tǒng)計分析大量測試數(shù)據(jù)， 從而提高則罩結(jié)果的可信度。

原位SPM成像

實(shí)現(xiàn)卓越的納米力學(xué)

布魯克原位掃描探針顯微技術(shù)( SPM ) 利用納米力學(xué)測試的壓頭掃描樣品表面從而實(shí)現(xiàn)表面形貌成像。同—尺度下的力學(xué)測試和形貌掃描保證了納米力學(xué)表征結(jié)果的卓越性 和可靠性。原位 SPM 成像可以實(shí)現(xiàn)納米尺度的**定位， 確保力學(xué)測試在材料上**的位置進(jìn)行。

磨損測試

定量納米尺度耐磨性能

利用TS Select 的SPM 原位掃描成像技術(shù) ， 可以**測噩磨損量和磨損率隨接觸力＼滑動速度和磨損次數(shù)的變化。得 益千寬泛的空間測噩范圍， TS  Select可以輕松實(shí)現(xiàn)局部微觀結(jié)構(gòu)、界面和薄膜的摩擦性能測試。

TS Select 控制軟件

簡化的系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析