Bruker三維光學表面輪廓儀-ContourGT-K1

布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術的全球lingdao者，服務于科研和生產ling域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結合了**的64位多核操作和分析處理軟件，zhuan  li技術白光干涉儀（WLI）硬件和****的操作簡易性，是歷年來來*****的3D光學表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界***高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中，***廣泛使用和***直觀的3D表面計量平臺。

應用：

    對LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半dao體行業(yè)以及數(shù)據存儲行業(yè)等，提供全方位非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機電器件（MEMS），大到整個引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精zhun數(shù)據

原理：

利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地dao致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。

特征：

◆ 業(yè)界***高的垂直分辨率，***強大的測量性能；

l 0.5~200倍的放大倍率；

l 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程；

l 高分辨率攝像頭；

◆  測量硬件的獨特設計，增強生產環(huán)境中的可靠性和重復性；

l 較高的震動的容忍度和GR&R測量的能力

l zhuan  li的自動校zhun能力；

◆  多核處理器下運行的Vision64™ 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度

l 數(shù)據處理速度提高幾十倍；

l 分析速度提高十倍；

l 無以倫比的大量數(shù)據無縫拼接能力；