德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術(shù)，更加鞏固了其行業(yè)。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)***更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。臺階儀Dektak XT能實現(xiàn)：1、 使用溫度條件：10-30℃；

2、無可匹敵的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃3、Single-arch設計提供掃描穩(wěn)定性4、**的“智能電子器件”設立了新低噪音基準5、新硬件配置使數(shù)據(jù)***時間縮短6、64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍7、頻率，操作簡易8、直觀的Vision64用戶界面，操作簡易9、針尖自動校準系統(tǒng)10、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能11、單傳感器設計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍