日置C測(cè)試儀3504-60適合用于封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等

高速測(cè)量2ms

日置C測(cè)試儀3504-60|HIOKI日置電容測(cè)試儀3504-60

能根據(jù)C和D（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷

對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能

3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試

3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試

查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件

日置C測(cè)試儀3504-60|HIOKI日置電容測(cè)試儀3504-60

基本參數(shù)

測(cè)量參數(shù) Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）

測(cè)量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000

基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg.±10 dgt., D:±0.0016

※測(cè)定精度=基本精度×B×C×D×E, B～E為各系數(shù)

測(cè)量頻率 120Hz, 1kHz

測(cè)量信號(hào)電平 恒定電壓模式: 100mV (**3504-60)，500 mV, 1 V

日置C測(cè)試儀3504-60|HIOKI日置電容測(cè)試儀3504-60

測(cè)量范圍:

CV 100mV:～170μF量程(測(cè)量頻率1kHz),～1.45mF量程(測(cè)量頻率120Hz)

CV 500mV: ～170μF量程(測(cè)量頻率1kHz),～1.45mF量程(測(cè)量頻率120Hz)

CV 1V: ～70μF量程(測(cè)量頻率1kHz),～700μF量程(測(cè)量頻率120Hz)

輸出電阻 5Ω（CV測(cè)量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)）

顯示 發(fā)光二級(jí)管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定）

測(cè)量時(shí)間 典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST）

※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同

功能 BIN分類測(cè)量(3504-40除外),觸發(fā)同步輸出,測(cè)量條件記憶,測(cè)量值的比較功能,平均值功能,Low-C拒絕功能,振動(dòng)功能,控制用輸出輸入(EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz,**110VA

體積及重量 260W ×100H×220Dmm, 3.8kg

附件 電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1

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(日置C測(cè)試儀3504-60|HIOKI日置電容測(cè)試儀3504-60主機(jī)不能單獨(dú)使用，測(cè)量時(shí)需要選用測(cè)試冶具或探頭)

日置HIOKI電學(xué)測(cè)試產(chǎn)品是本公司強(qiáng)項(xiàng)品牌價(jià)格非常有優(yōu)勢(shì)歡迎詢價(jià)

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