全球**的影像測量系統(tǒng)公司QVI-OGP旗下的VIEW Micro-Metrology是由Micro-Metric和VIEW Engineering – 世界**的兩家非接觸式光學(xué)測量儀企業(yè)合并而成，兩家公司都擁有逾30年的行業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，其高性能測量系統(tǒng)分為兩大系列：擅長測量復(fù)雜零部件的高速、高精度坐標(biāo)測量系統(tǒng)，以及專門用于測量半導(dǎo)體、MEMs晶圓、硬盤磁頭滑塊、光罩的顯微鏡系統(tǒng)。

微電子和微機(jī)械元件的測量過程要求集高準(zhǔn)確度、**性、可靠性為一體，并能靈活地為手頭的應(yīng)用創(chuàng)建整套解決方案。而VIEW Micro-Metrology每一臺(tái)測量系統(tǒng)就融入這些特點(diǎn)，使用經(jīng)過驗(yàn)證的材料和設(shè)計(jì)制造出持久可靠的高性能工程平臺(tái)，專注于經(jīng)驗(yàn)豐富的工程技術(shù)應(yīng)用，將硬件、光學(xué)和軟件恰到好處的結(jié)合起來以解決關(guān)鍵工序的測量問題。

VIEW影像測量儀幫助技術(shù)前沿的公司在微制造，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，半導(dǎo)體，醫(yī)療設(shè)備，汽車零部件，精密加工和注塑件，航天**器件，太陽能電池和MEMS等領(lǐng)域，開發(fā)和控制關(guān)鍵生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品質(zhì)量，被測的工件特征可小于1微米，具有納米級的精度性能。

VIEW Micro-Metrology光學(xué)測量產(chǎn)品的應(yīng)用優(yōu)勢：

l????? 小型移動(dòng)硬盤驅(qū)動(dòng)：存儲(chǔ)臂，沖模和微凹幾何圖形（swage and dimple geometry），pitch and roll

l??????柔性電路板：線寬和輪廓分析

l???? ?磁盤介質(zhì)：ID，OD，圓度，同軸度，倒角長度

l????? 錫膏摸板?

l????? PC板?????

l????? 錫膏高度、面積、體積

l????? 元件貼裝????

l??????引線框???

l???? 電子封裝??