X 射線熒光實(shí)際上是一種表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性，樣品的平均粒度和粒度分布至關(guān)重要。被分析樣品的粒度越小，同一元素粒度越小，制樣穩(wěn)定性越好，但是粒度越小，研磨難度越大，在實(shí)際的應(yīng)用中一般要求粒度小于200 目即可。

目前X 射線熒光分析的樣品處理中較多使用振動(dòng)磨樣機(jī)（又叫振動(dòng)研磨儀，振動(dòng)磨，盤式振動(dòng)磨）或球磨機(jī)。而振動(dòng)磨樣機(jī)相對(duì)于球磨機(jī)，效率更高，通常經(jīng)過(guò)幾分鐘（球磨機(jī)所需通常需要半小時(shí)甚至更長(zhǎng)）研磨后就能滿足樣品的粒度要求，一般樣品均可粉碎至74μm以下(通過(guò)200目篩子)，*的可以達(dá)到20μm左右。

PrepM-01振動(dòng)磨樣機(jī)工作方式為振動(dòng)研磨式，機(jī)器由電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)，在電動(dòng)機(jī)高速旋轉(zhuǎn)時(shí)，磨盒通過(guò)快速鎖緊裝置固定在振動(dòng)底盤上，振動(dòng)底盤采用偏心旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，振動(dòng)底盤和研磨套件在水平面上作圓周振動(dòng)式運(yùn)動(dòng)，位于研磨盒中的磨件經(jīng)這種振動(dòng)式運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生相當(dāng)大的壓力、撞擊和摩擦力并作用在樣品物料上，從而使磨盒中的樣品在數(shù)分鐘內(nèi)被沖擊研磨成細(xì)粒粉末的。

我們準(zhǔn)備了一些食品進(jìn)行了研磨試驗(yàn)，研磨效果可見(jiàn)下圖。

通過(guò)過(guò)篩后結(jié)論如下：

1.研磨樣品結(jié)果看，經(jīng)過(guò)幾次實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，大部分干燥脆硬食品樣品都能達(dá)到粒度要求。

2.栗子因?yàn)橛托源?，黏糊，研磨之后的顆粒均勻在1mm左右。

3.主機(jī)運(yùn)行非常平穩(wěn)，未出現(xiàn)位移（即使使用*轉(zhuǎn)速1400rpm，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行）。

4.從研磨產(chǎn)品質(zhì)量來(lái)講，1200rpm，3min的研磨時(shí)間，樣品**粒度，基本都在200目以下，特別對(duì)一些干脆樣品，能在更短時(shí)間和轉(zhuǎn)速下即可完成研磨。

總之，PrepM-01振動(dòng)磨樣機(jī)可以快速研磨干、硬、脆樣品的至200目以下，而一些溶點(diǎn)低或者濕性產(chǎn)樣品則不適用，可能需要借助低溫研磨來(lái)實(shí)現(xiàn)200目以下研磨目標(biāo)。