概述：

THK-L高低溫低氣壓測試箱是根據(jù)用戶要求并參照標準設計、制造。主要用于航天、電子、、科研和其它工業(yè)部門確定電工電子產(chǎn)品（包括元器件、材料、新能源和儀器儀表），用于模擬產(chǎn)生溫度、濕度與低氣壓的綜合環(huán)境，也可以模擬產(chǎn)生單獨的高溫、低溫、濕度及低氣壓環(huán)境。對試品施加溫濕度和耐高低壓綜合環(huán)境，以便對試品的性能和品質(zhì)作出進一步評價。

1.  設備型號：THK-L（高低溫低氣壓測試箱）；

2.  工作室尺寸：600X700 X800 mm (深X寬X高)；

3.  溫度范圍：-40～100℃；

4.  壓力范圍：常壓～600 pa；

5.  溫度波動：± 0.5 ℃；

6.  溫度偏差：± 2.0 ℃；

7.  升溫時間：30℃～180℃≤60 min；

8.  降溫時間：30℃～-40℃≤60 min；

9.  降壓時間：常壓～600pa≤80 min；

10.  控制方式：編程/定值運行；

11.  電源功率：AC 380V /50Hz ±10%，25.0Kw;

12.  安裝環(huán)境：設備周圍無強烈振動、無強電磁場干擾、無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)、無易燃易爆物品、無陽光直接照射或其它熱源直接輻射，設備應水平放置于通風良好的試驗室內(nèi)，周圍應留有充足的空間供操作及維護之用;

13.  考核環(huán)境：在標準大氣壓下滿足室溫≤25℃，相對濕度≤85%R.H，工作室空載，恒定兩小時。