材料的基本物理特性之一是其能按既定比例吸收或反射特定波段的輻射，吸收或反射能力與材料種類(lèi)和厚度有關(guān)。 X 射線(xiàn)測(cè)厚系統(tǒng)正是應(yīng)用了這一原理。射源的選擇和應(yīng)用方式（傳輸和被反射）由被測(cè)材料的材質(zhì)和應(yīng)用需求來(lái)決定。穿透式用于測(cè)量金屬厚度。射線(xiàn)管和檢測(cè)器分別置于材料的兩邊。檢測(cè)器檢測(cè)到的放性隨厚度增加而減少。檢測(cè)到的放射性則由微處理被轉(zhuǎn)換成為電信號(hào)，再根據(jù)測(cè)量產(chǎn)品進(jìn)行校準(zhǔn)。軟件平臺(tái)采用微軟的WINDOWS平臺(tái)和ARM的人機(jī)界面兩套系統(tǒng)可供選擇，由于核心機(jī)架部分采用水冷散熱，所以完全滿(mǎn)足高溫環(huán)境的使用。C型架中固定有射源和檢測(cè)器。射源內(nèi)有可產(chǎn)生射線(xiàn)的X射線(xiàn)管。檢測(cè)器固定在射源上方，由一個(gè)能檢測(cè)射源發(fā)散出的放射性的電離室，一個(gè)高壓電源和一個(gè)靜電放大器組成。電離電流與進(jìn)入電離室的輻射成比例。所有置于射源和電離室之間空隙的材料都會(huì)以一定比例減弱輻射，而這個(gè)比例又與材料密度成比例。如果材料密度均勻，則隨著厚度的增加，材料對(duì)輻射的減弱作用就越強(qiáng)，電離電流就越小。