本系統(tǒng)能對被測物施加突發(fā)干擾，再現(xiàn)被測物出現(xiàn)故障的現(xiàn)象；能采用不同的方式，向電子模塊直接注入突發(fā)性的電場干擾或磁場干擾，從而定位電路板上的電磁薄弱點(diǎn)，理解耦合機(jī)理，并完成設(shè)計(jì)修改。幫助工程師排除ESD和EFT問題

Langer E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng) , 全國促銷 求購 產(chǎn)品說明 使用方法 庫存充足 

E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，能夠快速**地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點(diǎn)），使工程師開發(fā)人員能夠準(zhǔn)確針對薄弱點(diǎn)設(shè)計(jì)恰當(dāng)?shù)?EMC措施，并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。

E1 檢測設(shè)備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機(jī)制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細(xì)描述。

E1 組套包括一個(gè)脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。