LANGER EMV-Technik為德國**近場(chǎng)探棒(NearFieldProbe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時(shí)開發(fā)出直徑2mm的近場(chǎng)探棒(NearFieldProbe)，再加上高感度及高辦識(shí)率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個(gè)很好的解決工具。

修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(NearFieldProbe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以，可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度，從而找出輻射大的零件或電路。