Langer RF4-E 近場探頭 低價格 Langer系列 總代 求購 使用方法 

LANGER EMV-Technik為德國近場探棒(Near FieldProbe)制造公司。

它針對現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細，同時開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(Near FieldProbe)，再加上高感度及高辦識率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個很好的解決工具。

修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標準和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。

所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(NearFieldProbe)進行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。