企業(yè)特殊行業(yè)經(jīng)營資質(zhì)信息公示
點(diǎn)擊圖片查看原圖LANGER EMV-Technik為德國**近場探棒(NearFieldProbe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì)，同時(shí)開發(fā)出直徑2mm的近場探棒(NearFieldProbe)，再加上高感度及高辦識(shí)率；為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品，提供一個(gè)很好的解決工具。
修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法，只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場分量、一個(gè)是電場分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(NearFieldProbe)進(jìn)行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源?？筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度，從而找出輻射大的零件或電路。
RF 3∶
＊ H-Field Probe RF-B 0,3 - 1
＊ H-Field Probe RF-R 0,3–1
＊ Cable SMB-BNC
＊? 175 x 140 x 32 mm
