一、

       在無負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：高低溫試驗(yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測(cè)試樣品變得更時(shí)不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。它的主要缺點(diǎn)是：不能評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱所造成的影響。

二、

       在有負(fù)載條件下開展校準(zhǔn)：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準(zhǔn)確地評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測(cè)試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)是：當(dāng)更換測(cè)試樣品時(shí)，需要重新校準(zhǔn)。

三、

       在使用過程中的實(shí)時(shí)測(cè)量：此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)，而且能夠得到測(cè)試樣品在環(huán)境試驗(yàn)過程中**的環(huán)境參數(shù)，往往在對(duì)環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí)采用。它的主要缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測(cè)量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時(shí)采用無負(fù)載條件下的校準(zhǔn)方法。

　　以上關(guān)于怎么校準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)箱的偏差就為大家分享到這里，高低溫試驗(yàn)箱是對(duì)電子電工、零部件、汽車摩托、光電光纖、通訊器件、半導(dǎo)體、照明電器、LED光電、復(fù)合材料、高分子材料、模具五金、LCD液晶顯示屏、航空航天、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫交變循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

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