1.高溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，試驗(yàn)箱溫度調(diào)節(jié)為55℃±2℃，持續(xù)保溫時(shí)間72 h，試驗(yàn)過程中不通電，不做功能試驗(yàn)。試驗(yàn)后在一般大氣條件下恢復(fù)2 h，進(jìn)行檢測，外觀質(zhì)量、絕緣電阻、耐壓值的結(jié)果應(yīng)符合要求。

2.低溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中﹐試驗(yàn)箱溫度為-40℃±3℃，持續(xù)保溫時(shí)間72 h，試驗(yàn)過程中不通電，不做功能試驗(yàn)。試驗(yàn)后在一般大氣條件下恢復(fù)2 h，進(jìn)行檢測﹐回線電阻和按鍵力的結(jié)果應(yīng)符合要求。

3.恒定濕熱：

將薄膜鍵盤放置在試驗(yàn)箱中，試驗(yàn)條件為溫度：40℃±2℃，相對濕度：93%±3% ，時(shí)間持續(xù)4 d ，樣品不包裝，試驗(yàn)過程中不通電。試驗(yàn)后在一般大氣條件下恢復(fù)2 h，進(jìn)行檢測，外觀質(zhì)量、回線電阻、絕緣電阻和耐壓值的結(jié)果應(yīng)符合要求。

以上就是薄膜鍵盤在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中的試驗(yàn)項(xiàng)目，除此之外，還需要做快速溫度變化試驗(yàn)，快速溫度變化試驗(yàn)需要用到快速溫度變化試驗(yàn)箱（型號：HYQT-80），其測試方法如下：

溫度變化：

將薄膜鍵盤放置在試驗(yàn)箱中，樣品處于不包裝，不通電的準(zhǔn)備使用狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)，經(jīng)受-40℃~+55℃，轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于3 min，高、低溫的暴露時(shí)間均為30 min的5次溫度循環(huán)。試驗(yàn)后，在一般大氣條件下恢復(fù)2h，進(jìn)行檢測，外觀質(zhì)量、回線電阻、絕緣電阻和按鍵力的結(jié)果應(yīng)符合要求。

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