靜電放電(ESD)測(cè)試： LED元件的ESD電阻低于通用C。除非添加齊納二極管，否則大多數(shù)制造商無法保證ESD分類。然而，他們中的大多數(shù)已將HBM> 2KV和MM> 1KV設(shè)定為目標(biāo)。

       熱阻(eth)和Tj的估算： 由于關(guān)鍵的散熱問題，當(dāng)環(huán)境溫度高時(shí)，光衰減在LED中加速。因此需要更好的散熱設(shè)計(jì)。測(cè)量熱阻可以幫助客戶找到適當(dāng)?shù)纳崮Ｐ突蜻x擇更合適的材料來延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。

       老化測(cè)試： 通過電流，溫度和濕度條件的不同組合進(jìn)行測(cè)試，我們還提供DOE Energy Star LM-80的驗(yàn)證服務(wù)。

       壽命估算：典型的耐久性測(cè)試，計(jì)算產(chǎn)品的活化能，以獲得更準(zhǔn)確的產(chǎn)品壽命估算。脈沖測(cè)試：這是一種模擬實(shí)際使用條件的快速但嚴(yán)格的測(cè)試。該測(cè)試可以用高溫或低溫儲(chǔ)存室或循環(huán)溫度室進(jìn)行。這是對(duì)極端條件的加速模擬。

       環(huán)境壓力測(cè)試：典型的壓力測(cè)試包括溫度循環(huán)測(cè)試(TCT)和溫度濕度循環(huán)測(cè)試。前者主要利用材料的熱膨脹系數(shù)不匹配(CTE不匹配)特征來揭示安裝后元件的結(jié)構(gòu)風(fēng)險(xiǎn);后者通過其呼吸效應(yīng)揭示產(chǎn)品的質(zhì)量問題。

       機(jī)械應(yīng)力測(cè)試：這些測(cè)試包括不同的推/拉，振動(dòng)，沖擊等模式，器件安裝在PCB上。它需要根據(jù)產(chǎn)品的預(yù)期應(yīng)用和環(huán)境條件適當(dāng)規(guī)劃測(cè)試條件，以揭示產(chǎn)品缺陷。

       氣體腐蝕試驗(yàn)：腐蝕性氣體包括含鹽霧和酸性氣體。由于當(dāng)前空氣污染嚴(yán)重影響地球環(huán)境，空氣中酸性氣體凝結(jié)產(chǎn)生的酸性流體是影響LED材料的關(guān)鍵因素：除了內(nèi)部光學(xué)反射的快速惡化外，外部老化效應(yīng)還會(huì)引起產(chǎn)品的變色問題。

       沙塵和雨(IP)測(cè)試： 終端產(chǎn)品對(duì)水和灰塵的保護(hù)需求很高，特別是在戶外使用時(shí)。

需要進(jìn)行限制性測(cè)試以確保產(chǎn)品具有可靠的配置。其他測(cè)試，其他常用測(cè)試包括早期失效篩選，可焊性測(cè)試壓力測(cè)試(PCT)，耐熱性測(cè)試等。

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