高低溫試驗(yàn)設(shè)備主要是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自身的要求，對(duì)產(chǎn)品在恒定低溫、高溫和高低溫循環(huán)等條件下的物理及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)。在規(guī)定時(shí)間內(nèi)通過(guò)測(cè)試后，可以初步判斷產(chǎn)品的性能是否仍能滿足預(yù)定功能要求，主要用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定和出廠檢驗(yàn)。

一、高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB_T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

IEC 60068-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫

二、適用的行業(yè)包括：

電子元器件、光通光電、半導(dǎo)體、汽車電子、儀器儀表、新能源、塑膠新材料、醫(yī)藥器械、金屬建材等行業(yè)產(chǎn)品。