測(cè)試目的

本試驗(yàn)法之目的在決定試件于溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。

范圍

本試驗(yàn)法可區(qū)分為：

試驗(yàn)方法Na：在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。

試驗(yàn)方法Nb：在特定溫度變率之溫度變化。

試驗(yàn)方法Nc：雙液體浸泡法之快速溫度變化。

前二項(xiàng)適用于元件、裝備或其它產(chǎn)品，第三項(xiàng)則適用于玻璃－金屬密封及類(lèi)似之產(chǎn)品。

限制

本試驗(yàn)法并不驗(yàn)證高溫或低溫環(huán)境效應(yīng)，若欲驗(yàn)證此種條件，則應(yīng)採(cǎi)用"IEC 68-2-1試驗(yàn)法A：冷"或"IEC 60068-2-2試驗(yàn)方法B：乾熱"。

測(cè)試步驟

試驗(yàn)方法Na：

在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化

 試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

 試件型態(tài)應(yīng)為無(wú)包裝、不加電及使用備便之狀況或其它相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。

將兩部溫度柜分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。

 將試件置于低溫柜中，并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。

 將試件移于高溫柜中，并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。

 高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。

 重複步驟4.1.4及步驟4.1.5之程式計(jì)4次。

 試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，并保持一定時(shí)間，使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。

回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。

試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

試驗(yàn)方法Nb：

在特定溫度變率之溫度變化

將試件置于溫度柜內(nèi)，試件形態(tài)應(yīng)為無(wú)包裝、不加電及使用備便之狀況或其它相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。

若有相關(guān)規(guī)范需求，試件可成為操作狀態(tài)。

 將柜溫降至規(guī)定之低溫條件，并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。

 將柜溫升至規(guī)定之高溫條件，并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。

高、低溫之溫度變率依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。

重複步驟4.2.3及步驟4.2.4之程式。

試驗(yàn)中須執(zhí)行電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

記錄電性及機(jī)械性能檢測(cè)所使用之時(shí)間。

試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，并保持一定時(shí)間，使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。

回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。

試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

測(cè)試條件

測(cè)試條件可由以下選擇適當(dāng)之溫度條件及試驗(yàn)時(shí)間或依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。

試驗(yàn)方法Na：

在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化

高溫： 200, 175, 155, 125, 100, 85, 70, 55, 40, 30℃。

低溫：-65, -55, -40, -25, -10, -5, 5℃。

濕度：每立方公尺空氣所含蒸氣需低于20公克(相當(dāng)于35℃時(shí)50%相對(duì)濕 度)。

駐留時(shí)間：含溫度柜之溫度調(diào)整時(shí)間可為3小時(shí)、2小時(shí)、1小時(shí)、30分鐘或10分鐘，若無(wú)規(guī)定則訂為3小時(shí)，試件置入溫度柜后，溫度調(diào)整時(shí)間不可超過(guò)駐留時(shí)間之十分之一。

轉(zhuǎn)移時(shí)間：手動(dòng)2～3分鐘，自動(dòng)少于30秒，小試件則少于10秒。

迴圈數(shù)：5迴圈。

試驗(yàn)容差：溫度低于200℃之容差為±2℃。

溫度介于250～1000℃之容差為測(cè)試溫度之±2%。

若溫度柜尺寸大小無(wú)法達(dá)到上述容差要求，容差可放寬；溫度低于100℃之容差為±3℃，溫度介于100～200℃之容差為±5℃（容差放寬需于報(bào)告中注明）。

試驗(yàn)輪廓：如圖1所示。