高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)步驟：

　　1.預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　2.初步檢測：將測試樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗(yàn)箱。

　　3、樣品斷電時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度應(yīng)降至-50℃，保持4小時(shí)；不要在樣品通電狀態(tài)下降溫，這一步非常重要，因?yàn)樾酒旧碓谕姞顟B(tài)下會(huì)發(fā)熱，降溫會(huì)很慢，必須先凍透，再通電試驗(yàn)。

　　4、在低溫階段結(jié)束后5min將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換為已調(diào)整的樣品90℃保持在高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)4h或者直到測試樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內(nèi)部溫度保持高溫，4小時(shí)后執(zhí)行A、B測試步驟。

　　5、進(jìn)行老化測試，觀察數(shù)據(jù)存在數(shù)據(jù)對比錯(cuò)誤。

　　6、高溫和低溫試驗(yàn)分別重復(fù)10次。

　　7、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時(shí)間可能略有誤差。

　　8、恢復(fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　9、后檢測：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度等方法評估檢測結(jié)果。

如果測試過程中沒有正常工作，則視為測試失敗。