X射線光電子能譜分析(XPS測(cè)試)

X射線光電子能譜是分析物質(zhì)表面化學(xué)性質(zhì)的一項(xiàng)技術(shù)。X射線檢測(cè)技術(shù)(Radioaraphicesting，即RT)是利用射線(X射線

射線中子射線等)穿過(guò)物體時(shí)的吸收和散射的特性，檢測(cè)其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性的技術(shù)。XPS可測(cè)量材料中元表組成，經(jīng)驗(yàn)公

式元素化學(xué)態(tài)和電子態(tài)。用一束X射線激發(fā)固體表面，同時(shí)測(cè)量被分析材料表面1-10nm內(nèi)發(fā)射出電子的動(dòng)能，而得到XPS

譜。光電子譜記錄超過(guò)一定動(dòng)能的電子。光電子譜中出現(xiàn)的譜峰為原子中一定特征能量電子的發(fā)射，光電子譜峰的能量和強(qiáng)度可用于定性和定量分析所有表面元毒(氣元毒除外)。

X射線光電子能譜分析(XPS測(cè)試)被廣泛應(yīng)用范圍

無(wú)機(jī)材料和有機(jī)材料中，如合金、半導(dǎo)體、聚合物、元素、催化劑、玻璃、陶瓷、染料、紙、墨水、木材、化妝品、牙齒、骨骼、移植物、生物材料、油脂、膠水、金屬、合金、半導(dǎo)體、有機(jī)物、無(wú)機(jī)物、薄膜、納米材料等

XPS主要能夠分析以下方面的內(nèi)容:

1.元素的定性分析?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除H，He以外的所有元素。

2.元素的定量分析。根據(jù)能譜圖中光電子譜線強(qiáng)度(光電子峰的面積)反應(yīng)原子的含量或相對(duì)濃度。

3.固體表面分析。包括表面的化學(xué)組成或元素組成，原子價(jià)態(tài)，表面能態(tài)分布，測(cè)定表面電子的電子云分布和能級(jí)結(jié)構(gòu)等。

4.化合物的結(jié)構(gòu)?？梢詫?duì)內(nèi)層電子結(jié)合能的化學(xué)位移**測(cè)量，提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息。

5分子生物學(xué)中的應(yīng)用。如利用XPS鑒定維生素B12中的少量的Co。

6.樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維可視化

7.內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸測(cè)量

8.不同組分結(jié)構(gòu)二維/一維表征及形態(tài)學(xué)分析

9.內(nèi)部缺陷/孔隙/梨紋表征及形態(tài)學(xué)統(tǒng)計(jì)，分析

10.纖維類樣品三維空間取向統(tǒng)計(jì)、分析

11.材料內(nèi)部滲流模擬與分析計(jì)算

12.多孔材料壁厚分析

13顆粒之間夾雜物以及表面包事物體積計(jì)算

14.材料內(nèi)部成分均勻性計(jì)算