美國(guó)SCS Ionograph Medium BT型離子污染測(cè)試機(jī)
Ionograph BT MP型離子污染度測(cè)試儀
采用離子污染/清潔度測(cè)試儀來對(duì)線路板或者焊接工藝對(duì)線路板上造成的殘留進(jìn)行測(cè)試,因?yàn)槠涞拇嬖跁?huì)影響產(chǎn)品的可靠性。
在一個(gè)潮濕的環(huán)境下,離子污染會(huì)造成許多問題,如由于結(jié)晶的生長(zhǎng)引起的導(dǎo)體之間的短路?;蛘咧苯痈g導(dǎo)體或者是降低產(chǎn)品的表面阻抗,所以對(duì)于清潔度或者為了保證產(chǎn)品的可靠性而言,監(jiān)控離子污染的程度顯得尤為重要。我們通過將樣品放置于一定濃度的IPA溶劑中,在一定的時(shí)間和清洗的作用下,我們就可以獲得離子總量數(shù)據(jù):μg/inch2/μg/cm2?NaCl 。
此設(shè)備的報(bào)告滿足IPC,IEC,MIL等國(guó)際主流標(biāo)準(zhǔn)。
Ionograph BT MP型離子污染度測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域:?
線路板(PCB)制造,PCBA(線路板組裝),半導(dǎo)體封裝,焊接工藝的實(shí)驗(yàn)和研究。?
Ionograph BT MP型離子污染度測(cè)試儀應(yīng)用特點(diǎn):
- 簡(jiǎn)單且**地測(cè)量離子濃度
- 全面和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)兼容
- 新型的測(cè)試槽,可以完成快速簡(jiǎn)單的測(cè)試
- 可以根據(jù)要求訂制清洗槽
- 全自動(dòng)測(cè)試,用戶界面友好,易于操作
Ionograph BT MP型離子污染度測(cè)試儀結(jié)果顯示:
整個(gè)測(cè)試過程可通過PC來完成,操作者只需要輸入被測(cè)樣品的尺寸,然后將其投入到清洗槽中即可。整個(gè)測(cè)試過程是全自動(dòng)的且同時(shí)可以生成基于時(shí)間的曲線,溶劑在每一次測(cè)試后通過過濾器再生,循環(huán)使用。測(cè)試溶劑的循環(huán)再生通過一個(gè)無須保養(yǎng)的泵以及一系列的閥門來產(chǎn)生。具有溫度傳感器的高精度的測(cè)試槽意味著即使是非常小的樣品同樣能夠被準(zhǔn)確測(cè)量。全面的軟件能夠記錄相應(yīng)的測(cè)試曲線而且能夠即刻與相應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)比較。
Ionograph BT MP型離子污染度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
SCS?Ionograph?BT?Series:?MP?(Medium?Parts)
測(cè)試槽尺寸?(W?x?H?x?D)
|
14?x?12?x?2.5?in?/?35.6?x?30.5?x?6.4?cm
|
估計(jì)溶液容量
|
2.6?g?/?10.0?L
|
尺寸?(W?x?H?x?D)
|
15.25?x?19.75?x?15?in?/?38.7?x?50.2?x?38.1?cm
|
重量
|
64?lb?/?29?kg
|
電源要求
|
120?VAC,?60?Hz,?1?A?/?230?VAC,?50?Hz,?0.5?A
|
主機(jī)型號(hào)有:
新款I(lǐng)onograph BT LP(老款:Ionograph 500M LP)
新款I(lǐng)onograph BT MP(老款:Ionograph 500M STD)
新款I(lǐng)onograph BT SP(老款:Ionograph 500M SP)
新款I(lǐng)onograph SMD V(老款:Ionograph SMD II)
新款Omegameter SMD 650(老款:Omegameter 600SMD)
常規(guī)耗材型號(hào)有:
FP-92-1000型離子交換樹脂(離子交換柱)
FP-92-0601型離子交換樹脂(離子交換柱)
PP-098-1003-0型三號(hào)標(biāo)準(zhǔn)溶液
其余耗材及配件請(qǐng)聯(lián)系我們。
?