平板探測器和線陣探測器是無損檢測中常用的兩種X射線探測器。它們在結(jié)構(gòu)和工作原理上有一些明顯的不同點(diǎn):
1. 結(jié)構(gòu):平板探測器通常由較大的單個探測器模塊組成,可以覆蓋較大的檢測面積。而線陣探測器是由多個排列在一條線上的小型探測器組成,形成一個線性陣列。
2. 探測方式:平板探測器采用全像式(全面輻射)探測,X射線從不同方向通過被檢測物體,探測器可以接收整個范圍內(nèi)的輻射。而線陣探測器是采用逐點(diǎn)掃描(點(diǎn)射線)探測,線陣中的探測器逐個掃描被檢測物體,形成點(diǎn)射線的方式進(jìn)行檢測。
全自動X射線輪轂檢測系統(tǒng)(使用了平板探測器)
4. 適應(yīng)性:平板探測器適用于大面積的無損檢測,可以有效檢測較大和均勻分布的缺陷。而線陣探測器適用于對細(xì)長物體、復(fù)雜幾何形狀或限制空間內(nèi)的檢測,能夠提供更高的靈活性和多樣性。
需要注意的是,選擇平板探測器還是線陣探測器取決于具體的應(yīng)用需求和被檢測物體的特性。在實(shí)際應(yīng)用中,不同的探測器類型可能會相互補(bǔ)充,以獲得更全面和準(zhǔn)確的無損檢測結(jié)果。