近幾年，我國經(jīng)濟飛速發(fā)展，各方面均由長足進步，工業(yè)品檢測設(shè)備的發(fā)展也有了較大的進步，比如現(xiàn)在大多數(shù)的膠片拍片法和增強器拍片都升級成了平板探測器為核心部件的數(shù)字成像方法，那么平板探測器到底是什么呢？我們來了解一下神秘的平板探測器。
平板探測器(FPDs)是*常見的直接數(shù)字探測器。它們分為兩大類: 1.間接FPDs。非晶硅(a-Si)是*常見的商用平板探測器材料。將非晶硅探測器與探測器外層由碘化銫(CsI)或氧化釓(Gd2O2S)制成的閃爍體結(jié)合在一起,將X射線轉(zhuǎn)化為光。由于這種轉(zhuǎn)換,非晶硅探測器被認為是一種間接成像設(shè)備。原理是利用半導(dǎo)體材料的特性，在其內(nèi)部形成PN結(jié)，當外界輻射射線與半導(dǎo)體材料相互作用時，在PN結(jié)中產(chǎn)生電離子對，電離子對經(jīng)過擴散，在PN結(jié)中形成一定的電荷云，這個電荷云的分布與射線入射位置有關(guān)。然后利用電極對電荷云進行感應(yīng)測量，就可以確定射線入射位置。因為這種測量方法穩(wěn)定可靠，誤差小，所以平板探測器廣泛應(yīng)用于核探測、粒子探測、X射線檢測等領(lǐng)域。
平板探測器搭配X射線源，結(jié)合圖像處理系統(tǒng)，便組成了X射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)，再根據(jù)需要設(shè)計合適的機械工裝，配上探傷房或者鉛房，便是一套完善的系統(tǒng)，通電、接地便可以工作，用來檢測各種金屬鑄件、焊縫等內(nèi)部的氣泡、夾雜、裂紋等缺陷。

X射線全自動鋁鑄件DR檢測系統(tǒng)（道青）