電工電子產(chǎn)品通用環(huán)境試驗(yàn)的質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告：

檢測(cè)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A： 低溫 GB/T 2423.1-2008 1；

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-1部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A： 低溫 IEC 60068-2-1:2007 1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008 1

基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第2-2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)B:干熱 IEC 60068-2-2:2007 1

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016 1

環(huán)境試驗(yàn).第2-78部分:試驗(yàn).試驗(yàn)室:濕熱、穩(wěn)定狀態(tài) IEC 60068-2-78:2012 1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995 1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 EN 60068-2-32-1993 1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008 1

基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Ka:鹽霧 IEC 60068-2-11:1981 1