溫升測試試驗是全世界各國電器及電子元器件產(chǎn)品安全性能的重要指標(biāo)之一，在安全試驗中，溫升測試是不可或缺的一環(huán)。一般而言，溫升值不受環(huán)境溫度的影響。因為溫升值是測量出來的溫度與環(huán)境溫度的差值。如環(huán)境溫度是T0，測試出的產(chǎn)品的工作時的溫度是T1,則T1-T0=K就是溫升。對產(chǎn)品而言，溫升值是固定的，不隨產(chǎn)品使用環(huán)境變化而變化。

  溫升是指導(dǎo)體通流后產(chǎn)生電流熱效應(yīng)，隨著時間的推移， 導(dǎo)體表面的溫度不斷地上升直至穩(wěn)定。穩(wěn)定的判斷條件是在所有測試點(diǎn)在1個小時測試間隔內(nèi)前后溫差不超過2K，此時測得任意測試點(diǎn)的溫度與測試**1/4周期環(huán)境溫度平均值的差值稱為溫升，單位為K。

  為驗證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性，通常會測試其重要元件（如金屬銅引腳、接線端子金屬部份、開關(guān)金屬部位等）的溫升，將被測設(shè)備置于高于其額定工作溫度（T。=25℃）的某一特定溫度（T=70℃）下運(yùn)行，穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升，驗證此產(chǎn)品的設(shè)計是否合理。T-T。=K, K就是電子產(chǎn)品的溫升。如中國**標(biāo)準(zhǔn)GB13140.1/IEC60998-1:2008《家用和類似用途低壓電路用的連接器件》規(guī)定連接器件中的夾緊件的載流部件溫升不應(yīng)超過45K, 就是指T-T。=K的溫度差不能超過45℃.

  溫升取決于電器產(chǎn)品運(yùn)行中發(fā)熱情況和散熱情況，針對電子元器件的溫升，則是指金屬部分通過電流時發(fā)熱的情況，以及引起到元器件別的部位發(fā)熱時的溫度情況。這主要取決于金屬部件的材質(zhì)及電鍍狀況，以及設(shè)計是否合理。但如果金屬部件的材質(zhì)是合格的，別的部位的材質(zhì)是不合格的，產(chǎn)品也就不合格。如針對一款接線端子來說，如果環(huán)境溫度T0=40℃，測得的金屬接線柱的溫度T1=85℃, 這時T1-T0=45℃,沒超過**標(biāo)準(zhǔn)，但測得外殼的溫度達(dá)到90℃，并且外殼發(fā)黃變色，這時外殼也就不合格了。 

  溫升試驗是型式試驗。

  在美國UL標(biāo)準(zhǔn)中，針對端子、連接器的的測試后幾道順序是：溫升-耐電壓-熱循環(huán)這樣的順序，這里的溫升就是靜態(tài)加熱溫升測試，熱循環(huán)就是循環(huán)加熱溫升測試。UL是全世界認(rèn)可的測試標(biāo)準(zhǔn)之一，德國的VDE的溫升標(biāo)準(zhǔn)與UL類似，TUV的溫升測試還有高溫環(huán)境下（40-45℃）的測試。

  中國**標(biāo)準(zhǔn)的IEC的溫升測試屬于是靜態(tài)加熱溫升測試和長期加熱溫升測試，如IEC13140.3-2008規(guī)定對無螺紋端子要進(jìn)行192個周期的測試，試驗時，加熱箱（室）的溫度由20℃-40℃-30℃-20℃變化，并同時測量電壓降測試。

  在德國ＴＵＶ認(rèn)證測試方法中，對于電子板中大功率元器件的溫升試驗增加高溫的環(huán)境溫試，高溫范圍40-45℃， 對連接器溫升測試在環(huán)境溫度：85℃時進(jìn)行。測試條件更嚴(yán)酷。

         由此，可看出，溫升測試實驗是全世界各國標(biāo)準(zhǔn)中測試比較嚴(yán)格的測試標(biāo)準(zhǔn)。因為它是反應(yīng)產(chǎn)品在實用環(huán)境下通電過程中真正的安全性能，溫升不合格，產(chǎn)品全出短路、斷路、燒毀電器，引起火災(zāi)等事故。