一、產(chǎn)品概述：

本套探針分別符合GB2099.1-2008標(biāo)準(zhǔn)中的圖9及圖10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護(hù)門內(nèi)的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。?

二、技術(shù)參數(shù)

20N推力試驗探針I(yè)EC-I20：探針部分3+0.03 0×1+0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;

1N推力試驗探針I(yè)EC-I21：探針部分Φ1+0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力 ?

三、使用方法

將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。

主要規(guī)格及對應(yīng)技術(shù)參數(shù)：

1.探棒直徑： ?Ф2.5+0.05 ? Ф2.5+0.05?

2.檔球直徑： ?SФ35±0.2 ? SФ35±0.2

3.手柄直徑： ? Ф10 ? ? ? ?Ф10

4.探棒長度： 100±0.2 ? ? 100±0.2

5.手柄長度： 100 ? ? ? ? ? ----

6.帶推力： ? ?---- ? ? ? ?3N推力