電子元器件、材料、PCB板失效分析
失效分析是指利用電學(xué)、物理和化學(xué)等各種分析技術(shù)和手段分析產(chǎn)品失效機(jī)理和原因的過(guò)程。在查找產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、試驗(yàn)、應(yīng)用等各環(huán)節(jié)產(chǎn)品故障或失效的根本原因中起到了關(guān)鍵的作用,是改進(jìn)和提高產(chǎn)品可靠性最有效的手段之一。
廣電計(jì)量檢測(cè)(GRGT)分析中心具有各種完善的失效分析技術(shù)手段,包括電學(xué)分析、無(wú)損分析、高分辨率的顯微形貌分析、物理性能分析、**的失效定位、制樣和試驗(yàn)驗(yàn)證等;
分析對(duì)象包括:各種元件、半導(dǎo)體分立器件、集成電路、射頻微波器件以及各種電源、光電模塊、金屬材料、高分子材料、鍍層等各門(mén)類(lèi)的元器件、組件和模塊、材料。
開(kāi)展失效分析的意義:
失效分析對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義,失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段,涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)、來(lái)料檢驗(yàn)、加工組裝、測(cè)試篩選、客戶(hù)端使用等各個(gè)環(huán)節(jié),通過(guò)分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場(chǎng)失效的樣品,確認(rèn)失效模式、分析失效機(jī)理,明確失效原因,最終給出預(yù)防對(duì)策,減少或避免失效的再次發(fā)生。
產(chǎn)生的效益
提供產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)的依據(jù),指引產(chǎn)品可靠性工作方向;
查明整機(jī)故障原因,有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施;
提高產(chǎn)品成品率和使用可靠性,降低維護(hù)維修成本,提升企業(yè)品牌和競(jìng)爭(zhēng)力;
明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方,為司法仲裁提供依據(jù)。
廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(GRGT)是原國(guó)家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計(jì)量測(cè)試站,通過(guò)了國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(CNAS)、國(guó)防實(shí)驗(yàn)室(DILAC)和總裝軍用實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可,獲得中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA)、食品檢驗(yàn)認(rèn)證(CMAF)和農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測(cè)認(rèn)證(CTAL),是二級(jí)保密單位和中國(guó)CB實(shí)驗(yàn)室,并獲得眾多國(guó)際**機(jī)構(gòu)和組織的能力認(rèn)可和授權(quán),檢測(cè)與認(rèn)證結(jié)果得到國(guó)際公認(rèn)。
GRGT環(huán)境實(shí)驗(yàn)室一直致力于產(chǎn)品研制和生產(chǎn)階段環(huán)境與可靠性試驗(yàn)的研究及技術(shù)服務(wù),從產(chǎn)品技術(shù)研發(fā)、設(shè)計(jì)、定型、樣品生產(chǎn)到量產(chǎn)質(zhì)控,提供一站式的環(huán)境與可靠性試驗(yàn)解決方案,為您提高產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性、環(huán)境適應(yīng)性和安全性,縮短產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)周期,保駕護(hù)航。
滿(mǎn)足IEC、ISO,GB、G**,EIA、ASTM、IPC、ISTA、JEDEC、SAE,JIS、MIL等國(guó)際、國(guó)家及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求,開(kāi)展氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、生物環(huán)境、化學(xué)環(huán)境和綜合環(huán)境絕大多數(shù)項(xiàng)目的試驗(yàn)和測(cè)試,同時(shí)可提供整車(chē)環(huán)境試驗(yàn),失效分析和元器件篩選,可靠性?xún)?yōu)化設(shè)計(jì)與分析,可靠性試驗(yàn)與評(píng)估,以及可靠性方案和整改建議等技術(shù)服務(wù),可對(duì)試驗(yàn)中的產(chǎn)品及材料進(jìn)行電學(xué)、磁學(xué)、表觀性能監(jiān)測(cè)。
失效分析業(yè)務(wù)聯(lián)系人:張海鵬(業(yè)務(wù)經(jīng)理)
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