我們X射線熒光（XRF）團隊的應(yīng)用科學家們出席了在瑞典哥德堡舉辦的年無損檢測歐洲研討會（ECNDT）。在研討會上，他們探討了一些包括篩檢玻璃制品和測量涂層厚度在內(nèi)的有趣的話題。

您可以查看下面的文件和演示文稿，以了解您錯過的內(nèi)容。

使用手持式X射線熒光分析儀測量涂層的厚度

手持式X射線熒光（HHXRF）技術(shù)可用于測量涂層的厚度，與其他技術(shù)相比，這種技術(shù)在**度和便攜性方面占有優(yōu)勢。在較大的表面區(qū)域上進行涂層分析，通常需要使用臺式儀器通過某些損壞性的操作程序來完成。手持式XRF技術(shù)克服了這個局限性，為用戶提供了一種無損涂層厚度檢測能力。

用戶通過分析儀用戶界面中內(nèi)置的校準功能，可以非常方便地使用一種認證標準樣品，對*多3個涂層的材料進行分析，并準確地測量這些涂層的厚度。使用手持式XRF分析儀對涂層的厚度進行測量，不需要考慮基底材料，而且可使用戶自由地分析含有從鈦（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉積性涂層。由于要分析的元素范圍很大，因此分析現(xiàn)場附近的實驗室可以借助手持式XRF分析儀傳送的準確結(jié)果，判斷所檢測的材料是否出現(xiàn)了腐蝕、磨損和涂層粘附等問題。

涂層分析的物理基礎(chǔ)是朗伯比爾吸收定律，根據(jù)這個定律，X射線在剛剛進入樣品的第一個涂層時，強度**，但是隨著它在涂層中的傳播，強度會逐漸減小。在進入第二個涂層時， X射線的強度已經(jīng)降低，因為其部分強度已經(jīng)被前一個涂層所吸收。隨著各個涂層對X射線呈指數(shù)的吸收，進入到樣品中的X射線的強度將繼續(xù)減小，所吸收的量取決于樣品的物理特性。